VISION 2026: Vielen Dank für Ihren Besuch – unsere CIS-Highlights im Rückblick

Die VISION 2026 in Stuttgart bot vom 6. bis 8. Oktober erneut eine hervorragende Gelegenheit, aktuelle Entwicklungen in der industriellen Bildverarbeitung vorzustellen und über konkrete Prüfaufgaben zu diskutieren. Wir bedanken uns herzlich bei allen Besuchern, Kunden, Partnern und Interessenten, die uns in Halle 10, Stand H20 besucht haben. Im Mittelpunkt unseres Messeauftritts standen unsere Contact […]

Tichawa Vision auf der SEMICON Europa 2025

Vom 18.–21. November ist Tichawa Vision auf der SEMICON Europa in München vertreten. In Halle C1, Stand 643, stellen wir den innovativen hochauflösenden BergKristall-WaferCIS vor. Besucher sind herzlich eingeladen, sich vor Ort über die Technologie zu informieren und auszutauschen. BergKristall Live-Demo auf der SEMICON Europa 2025 Im Rahmen der SEMICON Europa 2025, der größten europäischen […]

Waferinspektion mit Contact Image Sensor

Spezielle Anforderungen bei der Inspektion von Wafern Bei der Halbleiterproduktion spielt die optische Waferinspektion eine entscheidende Rolle, um Mikrochips mit makelloser Qualität herzustellen. Dafür werden unter anderem optische Systeme eingesetzt, um Kratzer, Defekte oder Partikel zu detektieren. Die Anforderungen an das Kamerasystem, das dabei eingesetzt wird, ist sehr anspruchsvoll. Es wird eine Hohe Auflösung benötigt, […]